单晶定向仪适用于工业生产等一般需求如何？

发布日期：2018-09-17 00:00 来源：http://www.lutsk2019.com 点击：

　　定向仪刻度环上标出Z小读数为2θ:1度θ:1度，数子显示以度、分、秒表示，Z小读数为10度该仪器用于测定单晶材料的缺陷，适用于工业生产等一般需求。仪器包括测试台、高压发生器和计算机分析系统。测试台主要由铜靶X射线管（30kV，1mA），单晶定向盖革计数管和嵌入式单片机系统组成，配有单色器。数字显示可置于任何角度上，测量的角度范围(2θ):--10度~140度(θ):--10度~70度单片机系统采集的实时数据传送给计算机分析系统进行数据处理。计算机分析系统由计算机、数据分析软件和打印机组成。该仪器是光机电一体化精密仪器，采用主机与电器控制分体化，体积小、重量轻，是各种单晶材料期间的科研部门和生产行业较为理想的仪器。

　　单晶定向仪对实时数据分析处理后得到的峰形曲线进行处理，进而得到峰位角和半高宽（FWHM）值，通过电脑屏幕以表格和曲线的形式显示，并可通过打印机输出测定结果。单相220V(AC),50Hz，0.5KW X-ray管铜靶，风扇冷却，阳极接地。一般样品测一次需2-3分钟（扫描范围≤2°），可测一次或者多次，重复性≤±5″。该仪器还是一台半自动高精度定向仪，测角精度为±15″，小读数1″。 X射线晶体定向仪对诸如SiO2(0003)反射能力弱的晶面，其测量精度也能达到±15″。上机体也叫主机，可以放置在桌面上来使用。主要用于放置被测晶体及进行测量操作。尺寸：695（长）×600（宽）×470（高）mm；下机体也叫电气箱，可放置到距离主机近的地面上。主要用于放置较大的主要电气件。尺寸：650（长）×460（宽）×470（高)mm。